4006-01-9999
登錄

三支一扶招聘考試

各地
招考

您當(dāng)前位置:公務(wù)員考試網(wǎng) > 三支一扶考試網(wǎng) > 備考資料 > 行測(cè)輔導(dǎo) > 掃描電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)中有著廣泛的用途。它對(duì)工

掃描電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)中有著廣泛的用途。它對(duì)工具痕跡、彈頭、彈殼上痕跡的檢驗(yàn)非常有用,對(duì)毛發(fā)、射擊殘留物和其他微細(xì)物證

2022-10-04 23:04:00 三支一扶招聘考試網(wǎng) http://yflching.cn/ 文章來源:未知

【導(dǎo)讀】華圖三支一扶招聘考試網(wǎng)未知發(fā)布:掃描電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)中有著廣泛的用途。它對(duì)工具痕跡、彈頭、彈殼上痕跡的檢驗(yàn)非常有用,對(duì)毛發(fā)、射擊殘留物和其他微細(xì)物證,詳細(xì)信息請(qǐng)閱讀下文!更多資訊請(qǐng)關(guān)注華圖三支一扶考試微信公眾號(hào)(htszyf),歡迎加入全國三支一扶備考交流群:764172889。

掃描電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)中有著廣泛的用途。它對(duì)工具痕跡、彈頭、彈殼上痕跡的檢驗(yàn)非常有用,對(duì)毛發(fā)、射擊殘留物和其他微細(xì)物證也極為有用。掃描電子顯微鏡不僅能以極高的倍數(shù)提供物證的形態(tài)和表面結(jié)構(gòu)特點(diǎn)的放大圖像,而且由于有很好的景深,還能提供清晰的三維圖像。這些優(yōu)點(diǎn)都是一般光學(xué)顯微鏡所不及的。此外,掃描電子顯微鏡與X射線分析儀聯(lián)網(wǎng)還能對(duì)驗(yàn)材進(jìn)行定性分析。

這段話中主要支持了這樣一個(gè)論點(diǎn),即:

A. 掃描電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)中有廣泛的用途

B. 掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)其他光學(xué)顯微鏡不具備

C. 掃描電子顯微鏡有適于物證檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)

D. 掃描電子顯微鏡是物證檢驗(yàn)中運(yùn)用最廣泛的一種儀器

【答案】A

【解析】本題為主旨概括題。文段首句說明了掃描電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)中有著廣泛的用途,接著論述了電子顯微鏡在物證檢驗(yàn)方面的具體用途:一是對(duì)工具痕跡、彈頭、彈殼、毛發(fā)、射擊殘留物具有重要作用,二是能夠提供物證圖像,三是能對(duì)驗(yàn)材進(jìn)行定性分析。可見,文段采用的是總分結(jié)構(gòu),首句即為文段的強(qiáng)調(diào)重點(diǎn),A選項(xiàng)是對(duì)首句的同義替換,因此,本題選擇A選項(xiàng)。

公告搶先知 一對(duì)一咨詢
關(guān)注華圖三支一扶社區(qū)考試網(wǎng) 及時(shí)了解本地考情
各地區(qū)公告搶先看 免費(fèi)領(lǐng)取備考資料
專業(yè)客服為您答疑 咨詢上岸課程
(編輯:liuyuewei)
活動(dòng)推薦
熱門課程
聯(lián)系方式

關(guān)注公眾號(hào)

華圖三支一扶社區(qū)考試網(wǎng)
關(guān)注我們:后臺(tái)留言
精品內(nèi)容搶先看,專業(yè)客服答疑

面對(duì)面咨詢

了解本地考情
免費(fèi)領(lǐng)取備考資料
有問題找圖圖,答疑解惑小幫手

官方圖書推薦

更多>
有報(bào)考疑惑?在線客服隨時(shí)解惑